ERISED重点关注产品质量以及在预期应用的可靠性。预期应用将特性化为任务剖面，即在特定环境中，产品在其整个生命周期内的相关环境负载和功能负载。

为了保证产品的可靠性能力，我们：

· 选择和评估适用的应用任务剖面(速度、功率、温度、使用寿命、负载循环等)。

· 通过自带可靠性(built-in reliability)，应对已知失效机制，从而确保产品耐用性。

· 利用测试条件和测试时长，模拟和加速产品实际使用的环境和负载。

· 确定产品认证计划，确保产品符合行业标准，如联合电子设备工程委员会(JEDEC)标准;适用时满足客户特定要求。

上述标准所述的芯片失效率遵循浴缸曲线。开始有一个初始降低的失效率，紧接着是长期的低水平失效率，然后是损耗失效。对于浴缸曲线的每个部分，ERISED都有确定的方法来保证低失效率。

测试和老化用于筛选早期失效产品(infant mortality)，可降低了早期失效率

在设计时就保障使用寿命期间的稳健性，通过电气测试(如静电放电、闩锁、软错误)进行检查。